DualScope FMP20雙功能測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置的詳細(xì)資料：

DualScope FMP20雙功能測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

德國菲希爾Fischer 公司

    50多年來，德國 Helmut Fischer GmbH Institutefor Electronics and Metrology 公司致力于提供滿足zui高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)解決方案的檢測儀器。所有儀器繼續(xù)在德國Sindelfingen總部工廠研發(fā)和生產(chǎn)。我們已取得DIN ISO 9001：2000認(rèn)證，我們的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室也取
得DKD認(rèn)證。

您可信賴的知識、能力和經(jīng)驗(yàn)

Fischer 的產(chǎn)品線涵蓋了測量和分析儀器，廣泛應(yīng)用于各個工業(yè)領(lǐng)域。使用合適的測量方法，可以獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果以及*的重復(fù)精度。無論是磁感應(yīng)或是電渦流方法，β背散射法，庫侖電解法，微硬度法或X射線熒光法, Fischer 都擁有相適應(yīng)的成熟技術(shù).

鍍層厚度

無論是噴涂還是電鍍，無論被測材料有無鐵磁性——在我們眾多產(chǎn)品中，您總能找到可測量鍍層厚度的儀器.

• 電磁測量法: 袖珍式儀器, 手持式儀器, 臺式儀器, 各種探頭
• X 射線熒光法
• 庫侖法
• β 背散射法
• 微電阻法
• 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對涂層停止非破壞性測量.
• 自動識別探頭
• 自動識別基材（FMP 20）
• 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C(jī)的USB接口
• 顯示常見的統(tǒng)計參數(shù)，如平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui小值、zui大值、更改規(guī)模
• 可便利地依照樣品外形停止調(diào)劑
• 供給的電腦軟件 FISCHER DataCenter 具備如下功效： 傳輸和保留測量值，全面的統(tǒng)計和圖形化評價，輕便天生并打印檢測申報

FISCHER提供各種各樣的大約100根探針，被設(shè)計滿足一個寬廣的應(yīng)用范圍的要求。 這些單位被設(shè)計非常健壯和高度有抵抗性佩帶和提供準(zhǔn)確測量在延長期，不用表現(xiàn)任何損失(既使當(dāng)使用repeatably在硬面)。 每根探針根據(jù)zui高標(biāo)準(zhǔn)充分地被制造內(nèi)部，小心地校準(zhǔn)在工廠(在幾個參考點(diǎn))為了提供zui大真實(shí)。 另外，所有渦流探查特點(diǎn)FISCHER的給予的傳導(dǎo)性報償，那使能基體材料的各種各樣的傳導(dǎo)性的調(diào)整(象各種各樣的鋁合金)，消滅長的本地定標(biāo)。 這些探針是用途廣泛在所有電磁式測量系統(tǒng)。

DUALSCOPE FMP20

Based on the automatic substrate material recognition and the combination of the two measurement methods 
(magnetic-inductive and eddy-current according to ISO 2178, ASTM D7091 and ISO 2360), this universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.